石英砂负载巯基材料去除Hg(Ⅱ)离子影响因素的响应曲面分析

目的研究石英砂负载巯基材料(SFQ)去除Hg(Ⅱ)离子过程中各因素的影响,优化Hg(Ⅱ)离子去除条件.方法采用响应曲面(RSM)试验中的中心组合设计(CCD)方法,以吸附时间、Hg(Ⅱ)离子质量浓度和pH作为试验因子,建立3因素3水平响应曲面回归模型,以Hg(Ⅱ)离子的去除率作为响应值进行全面分析,并验证模型的准确度.结果响应曲面CCD建立的吸附模型对SFQ吸附Hg(Ⅱ)离子拟合度较高,R~2=0.982 2,模型优化所得的最佳条件为:Hg(Ⅱ)离子质量浓度为0.96 mg/L,pH值为3.78,处理时间为102.94 min.在此条件下,Hg(Ⅱ)去除率为92.05%.试验结果与模型预测值符合,理论值与实测相对误差不超过2%.结论 SFQ吸附Hg(Ⅱ)离子去除率的影响因素大小顺序依次为:pH、Hg(Ⅱ)离子质量浓度、吸附时间.SFQ对污水中Hg(Ⅱ)离子去除率较高,可以将SFQ材料应用于含汞废水的处理.