| 智能测试系统中频率相位发生器的设计 |
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| 引用本文： | 黄威,白凤山. 智能测试系统中频率相位发生器的设计[J]. 内蒙古大学学报(自然科学版), 2004, 35(5): 562-565 |
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| 作者姓名： | 黄威 白凤山 |
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| 作者单位： | 内蒙古大学理工学院电子工程系,呼和浩特,010021;内蒙古大学理工学院电子工程系,呼和浩特,010021 |
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| 摘 要： | 介绍了基于可编程DDS芯片AD9850设计的高精度频率相位发生器．通过计算机串口发送频率相位更新字，经过MAX232电平转换，再由单片机对数据格式进行转换后送入AD9850，从而产生所需的信号。
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| 关 键 词： | 串行通信 AD9850 频率相位发生 AT89C2051 |
| 文章编号： | 1000-1638(2004)05-0562-04 |
| 修稿时间： | 2004-06-02 |
Design of the Frequency and Phase Generator in the Intelligent Test System |
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| HUANG Wei,BAI Feng-shan. Design of the Frequency and Phase Generator in the Intelligent Test System[J]. Acta Scientiarum Naturalium Universitatis Neimongol, 2004, 35(5): 562-565 |
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| Authors: | HUANG Wei BAI Feng-shan |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | serial communication AD9850 frequency and phase generate AT89C2051 |
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