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半导体二极管P—n结的激光显微光谱分析

作者单位：	云南大学物理系激光显微分析仪研制小组

摘要：	本实验待测样品为经高温寿命试验200小时后报废的稳压二极管管芯。由于该型号管子寿命试验2000小时后报废率达90%以上,因此查明致损原因,就成为一个急待解决的问题。在进行激光显微光谱分析前,曾对同种废品管芯作金相观察和扫描电子显微镜成分分析。得到了管芯与电极材料各过渡层的接触面外貌图象,但成分分析结果不能肯定 p
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