应用根轨迹技术按二次型性能指标设计最优的闭环极点分布

本文采用了根轨迹技术按二次型性能指标来设计最优的闭环极点分布。为此目的,提出了一种所谓由S域到Q域的变换技巧。还列举了几个算例,用以说明按一对闭环主导极点可能选取的合适的阻尼系数值,决定最优闭环极点的一般步骤。采用本文给出的这种算法,在做闭环极点的最优设计时,就不必如用原“解析的设计”方法时需预先选定二次型性能指标中加权系数的数值,并要求解一组联立非线性方程。