| 基于FPGA的微处理器SET敏感性评估方法 |
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| 引用本文： | 孙骏,梁华国,姚瑶,黄正峰,徐秀敏.基于FPGA的微处理器SET敏感性评估方法[J].合肥工业大学学报(自然科学版),2019,42(11). |
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| 作者姓名： | 孙骏 梁华国 姚瑶 黄正峰 徐秀敏 |
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| 作者单位： | 合肥工业大学 电子科学与应用物理学院,安徽 合肥,230601;合肥工业大学 电子科学与应用物理学院,安徽 合肥,230601;合肥工业大学 电子科学与应用物理学院,安徽 合肥,230601;合肥工业大学 电子科学与应用物理学院,安徽 合肥,230601;合肥工业大学 电子科学与应用物理学院,安徽 合肥,230601 |
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| 摘 要： | 为了快速准确地的评估微处理器单粒子瞬态(single event transient,SET)软错误敏感性,文章提出了一种改进的基于现场可编程门阵列(field programmable gate array,FPGA)故障注入的软错误敏感性评估方法。该方法通过分析微处理器门级网表和时序文件,提取SET故障注入位置和传输延时信息,使用扫描链实现SET故障脉冲的注入,同时考虑了时窗屏蔽效应、逻辑屏蔽效应和电气屏蔽效应对SET故障脉冲传播的影响;并使用该方法对PIC16F54微处理器进行了故障注入。实验结果表明,基于该方法进行故障注入及软错误敏感性评估所需的时间比Isim软件仿真方法提高了约4个数量级。
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| 关 键 词： | 单粒子瞬态(SET) 现场可编程门阵列(FPGA) 微处理器 故障注入 敏感性评估 |
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