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| 基于投影U-过程的多元正态分布的拟合优度检验 | |
| 引用本文： | 陈广雷,王兆军. 基于投影U-过程的多元正态分布的拟合优度检验[J]. 南开大学学报(自然科学版), 2009, 42(5) |
| 作者姓名： | 陈广雷 王兆军 |
| 作者单位： | 陈广雷(中国人民武装警察部队学院,基础部,河北,廊坊,065000;南开大学,数学科学学院,天津,300071);王兆军(南开大学,数学科学学院,天津,300071) |
| 摘 要： | 给出两个新的多元正态分布检验的统计量,基于U-过程和正态分布的列维特征,利用投影寻踪方法,证明了在零假设下,所提出检验统计量具有相合性和渐进正态性. |
| 关 键 词： | 正态性检验 U-过程 投影寻踪 |
Two New Tests for Multinormality Based on U-processes with PP Method |
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| Abstract: | |
| Keywords: | test of multinormality U-processes projection pursuit |
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