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用高频电容—电压法研究GD—a—Si:H的隙态密度
引用本文:王印月 胡著华. 用高频电容—电压法研究GD—a—Si:H的隙态密度[J]. 兰州大学学报(自然科学版), 1989, 25(4): 41-49
作者姓名:王印月 胡著华
摘    要:

关 键 词:异质结 隙态密度 晶硅 电压法

A Study on Density of Gap States in GD-a-Si:H Films by High Frequency Capacitance-Voltage Method
Wang Yinyue,Hu Zhuhua,Chen Guanghua. A Study on Density of Gap States in GD-a-Si:H Films by High Frequency Capacitance-Voltage Method[J]. Journal of Lanzhou University(Natural Science), 1989, 25(4): 41-49
Authors:Wang Yinyue  Hu Zhuhua  Chen Guanghua
Affiliation:Wang Yinyue;Hu Zhuhua;Chen Guanghua
Abstract:
Keywords:heterojunction  density of gap states
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