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| 诱导效应指数与X—SiRxH3—x键的键裂能 | |
| 引用本文： | 张秀利,了惠兰.诱导效应指数与X—SiRxH3—x键的键裂能[J].河北师范大学学报(自然科学版),1997,21(3):287-290. |
| 作者姓名： | 张秀利 了惠兰 |
| 作者单位： | 河北科技大学基础部(张秀利)，河北师范大学数学系(陈惠兰) |
| 摘 要： | 利用诱导效应指数，建立了两个用以计算硅烷基衍生物中Ｘ—Ｓｉ键的键裂能的方法．２４个可比较值的平均偏差分别为３．１５和２．５７ｋＪｍｏｌ－１．同时，也得到两个用以计算硅烷基自由基的生成热的方法，４个可比较值的平均偏差分别为０．８５，１．１０ｋＪｍｏｌ |
| 关 键 词： | 诱导效应指数 键裂能 硅烷基衍生物 硅烷基自由基 生成热 |
The Inductive Effect Index and the Bond Dissociation Energies of X SiR x H 3- x |
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| Zhang Xiuli,Chen Huilan.The Inductive Effect Index and the Bond Dissociation Energies of X SiR x H 3- x[J].Journal of Hebei Normal University,1997,21(3):287-290. | |
| Authors: | Zhang Xiuli Chen Huilan |
| Institution: | Zhang Xiuli 1) Chen Huilan 2) |
| Abstract: | |
| Keywords: | the inductive effect index bond dissociation energy alkylsiliane derivatives alkylsiliane radical heats of formation |
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