| X射线荧光法检测金属镀层厚度 |
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| 引用本文： | 严振庄 刘亨远. X射线荧光法检测金属镀层厚度[J]. 河北师范大学学报(自然科学版), 1997, 21(2): 153-155 |
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| 作者姓名： | 严振庄 刘亨远 |
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| 作者单位： | 河北师范大学物理系，河北省商检局 |
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| 摘 要： | 介绍了用γ辐射源激发Ｘ射线荧光法测定金属镀层的镀布量的方法，并同其他检测手段做了对比，发现该法是非破坏性测定镀布量小于几ｍｇ／ｃｍ２镀层的最准确方法
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| 关 键 词： | 镀层；镀布量；X射线荧光 |
Determination of Metal Plating Thikness by X Ray Fluorescence Method |
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| Yan Zhenzhuang ) Xie Dong ) Liu Hongyuan ). Determination of Metal Plating Thikness by X Ray Fluorescence Method[J]. Journal of Hebei Normal University, 1997, 21(2): 153-155 |
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| Authors: | Yan Zhenzhuang ) Xie Dong ) Liu Hongyuan ) |
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| Affiliation: | Yan Zhenzhuang 1) Xie Dong 1) Liu Hongyuan 2) |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | metal plating mass thickness X Ray fluorescence |
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