基于编码前缀映射的测试数据压缩方法 |
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作者姓名: | 于海涛 马光胜 |
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作者单位: | 哈尔滨工程大学计算机科学与技术学院,黑龙江,哈尔滨,150001 |
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摘 要: | 以排列不等式定理为基础,针对集成电路的测试数据压缩,提出一种测试数据编码前缀的映射方法,通过对编码前缀进行映射后,使测试编码前缀的总长度得到降低,从而测试数据得到进一步压缩.该方法的硬件开销很小,解压方法简单.实验结果表明,该方法有效地提高了集成电路测试数据的压缩率.
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关 键 词: | 测试压缩 编码前缀 映射 |
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