| 模型S下DC问题的研究 |
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| 引用本文： | 刘文安,丁承杰.模型S下DC问题的研究[J].河南师范大学学报(自然科学版),1991,19(4):15-25. |
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| 作者姓名： | 刘文安 丁承杰 |
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| 作者单位： | 河南师范大学数学系，河南师范大学数学系 |
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| 摘 要： | 本文研究了在 S(Scale)模型下,“坏元数”d=2的 DC 问题得出了比S.S.Cairns更强的结果:我们给出了方案 g,对于百分之八十一点多的 n 来说,g 是最优方案;对于不是最优的那些 n 值,由 g 所提供的方案的试验次数至多比最优试验次数多1. 并且证明了 Cairns 关于 T(?)(2;n)值的一个猜测:随着 n 的不同,T(?)(2;n)的值取2k-1,2k,2k+1中的一个.其中 T(?)(2;n)表示在模型 S 下对给定的 d=2和 n 找到全部“坏元”所需的最少试验次数.
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| 关 键 词： | 模型 S 试验集 最优试验方案 |
RESEARCH OF DC PROBLEM IN THE MODELS |
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| Liu Wen''''an Ding Chengjie.RESEARCH OF DC PROBLEM IN THE MODELS[J].Journal of Henan Normal University(Natural Science),1991,19(4):15-25. |
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| Authors: | Liu Wen'an Ding Chengjie |
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| Institution: | Department of Mathematics |
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| Abstract: | In this paper,we research the defective coins(DC)problem in the model S with d=2 and get some results which are stronger than Cairns:optimal scheme g is constructed for more than 80% of natrual set N;for other n,the numbers of test of scheme g are over 1 then the numbers of test of optimal scheme(T(?)(2;n))at most.and Cairns′s conjecture:T(?)(2;n)has one of the values 2K-1,2K,2K+1,depending on n,is proved. |
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| Keywords: | model S test set optimal test scheme |
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