基于半导体器件的弯管非接触测量原理研究

在接触式弯管测量机的基础上，采用半导体激光器和光敏二极管设计的测量叉来实现对弯管的非接触测量，给出了测量叉的光学结构，研究了测量原理，推导了数学模型，分析了该方法产生误差的原因，提出了提高测量精度的措施。