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| 微波光电导衰退测量少子寿命的新方法 | |
| 引用本文： | 王宗欣 ,包宗明.微波光电导衰退测量少子寿命的新方法[J].复旦学报(自然科学版),1982(4). |
| 作者姓名： | 王宗欣 包宗明 |
| 摘 要： | 少数载流子寿命是半导体材料的一个重要参数,它对各种半导体器件的电特性有很大影响.已有许多作者采用微波方法测量半导体材料的少子寿命.这种方法本质上是光电导衰退法.由于可做到无接触测试,它显示了较大的优越性.但是,为了把样品 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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