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衰老性学习记忆障碍与脑内突触穿孔出现频率的相关性
作者姓名:
章子贵
胡一中
作者单位:
摘 要:
选用1月、6月和18月龄小鼠。分别用Y-迷宫和一次性被动回避反应模观测小鼠学习和记力的变化,然后制备大脑皮层感针对驱和海马CA3区超薄切片,用透射电镜拍摄GrayⅠ型突触照片,统计各组两脑区突触穿孔出现频率的变化。
关 键 词:
学习记忆障碍 突触穿孔 电镜 出现频率 衰老性
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