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PCVD制备SnO_2:Sb薄膜及其电学性能分析
引用本文:陈俊芳,刘祖黎,魏合林,朱大奇. PCVD制备SnO_2:Sb薄膜及其电学性能分析[J]. 华中科技大学学报(自然科学版), 1993, 0(Z1)
作者姓名:陈俊芳  刘祖黎  魏合林  朱大奇
作者单位:华中理工大学物理系(陈俊芳,刘祖黎,魏合林),华中理工大学物理系(朱大奇)
基金项目:国家自然科学基金资助课题.
摘    要:讨论了管式等离子体化学气相沉积制备SnO_2:Sb掺杂透明导电膜的电学性能与沉积温度,进氧量和沉积时间的依存性.在进氧量为3L/min、沉积温度500℃、沉积时间30min的条件下制得了电阻为17Ω/□的SnO_2:Sb薄膜.并利用电镜显微形貌观察到在500℃时,制得的薄膜晶粒细微密集,致密度高.还测定了薄膜的温阻特性,结果表明该膜具有负温阻特性.

关 键 词:等离子体化学气相沉积(PCVD)  掺杂透明导电膜  薄膜特性

The Preparation of SnO_2 : Sb Film by PCVD and a Study on Electrical Properties
Chen Junfang Liu Zuli Wei Helin Zhu Daqi. The Preparation of SnO_2 : Sb Film by PCVD and a Study on Electrical Properties[J]. JOURNAL OF HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY.NATURE SCIENCE, 1993, 0(Z1)
Authors:Chen Junfang Liu Zuli Wei Helin Zhu Daqi
Affiliation:Chen Junfang Liu Zuli Wei Helin Zhu Daqi
Abstract:
Keywords:PCVD  transparent conducting film  properties of film
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