| 数字信号处理器综合测试方案 |
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| 引用本文： | 严伟,龚幼民. 数字信号处理器综合测试方案[J]. 上海大学学报(自然科学版), 2005, 11(2): 133-138 |
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| 作者姓名： | 严伟 龚幼民 |
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| 作者单位： | 上海大学,微电子研究与开发中心,上海,200072;上海大学,机电工程与自动化学院,上海,200072;上海大学,微电子研究与开发中心,上海,200072;上海大学,机电工程与自动化学院,上海,200072 |
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| 摘 要： | 该文以16位数字信号处理器测试为例,形成涵盖主要功能块的测试方案.对于指令部分,强调δ 和δ-的故障模型作为测试的重点;指令顺序先对内部寄存器读、写指令测试,然后测试其它指令;流水线指令测试按照数据条件、条件相关、转移相关的“写后读”方法进行测试;通用寄存器堆部分,结合边界扫描的MARCH B算法进行测试;中断部分,采用了全扫描链的中断测试算法;形成了整体数字信号处理器测试方案,并给出算法的测试程序、具体例子、测试程序统计结果.
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| 关 键 词： | 指令 功能测试 数字信号处理器 |
| 文章编号： | 1007-2861(2005)02-0133-06 |
| 修稿时间： | 2004-01-04 |
Integrated Test Scheme for Digital Signal Processor |
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| YAN Wei,GONG You-min. Integrated Test Scheme for Digital Signal Processor[J]. Journal of Shanghai University(Natural Science), 2005, 11(2): 133-138 |
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| Authors: | YAN Wei GONG You-min |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | instruction function test digital signal processor |
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