JTAG技术在PCB测试中的应用 |
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作者姓名: | 刘军 |
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作者单位: | 中国电子科技集团第三十八研究所数字技术部,安徽合肥230031 |
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摘 要: | 印刷电路板越来越复杂,完整的测试变得越来越重要。上世纪八十年代,联合测试行动工作组(JTAG)开发出边界扫描的测试规范,这个规范后来被制定为IEEE1149.1—1990标准。边界扫描测试结构提供了一种方法,可以高效的测试PCB上面的器件,基于边界扫描的PCB测试技术是一项成本低廉、高效、高覆盖率的测试技术,较好的满足了复杂PCB板级测试方面的需求。
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关 键 词: | 边界扫描 移位寄存器 板级测试 Tap Controller |
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