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| 基于微流控芯片表面张力系数的测量方法 | |
| 引用本文： | 周治国,刘志文.基于微流控芯片表面张力系数的测量方法[J].北京理工大学学报,2010,30(10):1205-1208. |
| 作者姓名： | 周治国 刘志文 |
| 作者单位： | 北京理工大学,信息与电子学院,北京,100081;北京理工大学,信息与电子学院,北京,100081 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目 |
| 摘 要： | 提出一种采用微流控芯片进行微量液体表面张力系数测量的新方法,并对其制作工艺流程进行研究.以聚碳酸酯核孔膜为模,利用毛细作用力使聚二甲基硅氧烷预聚物充满膜孔.固化后与微腔室键合,注入有机溶剂溶模释放出微柱阵列.位于液气分界面处的微柱顶端由于蒸发作用打破表面张力平衡引起微柱发生弯曲形变,通过对微柱形变图像处理,计算得出表面张力系数.实验结果表明该测量方法有效,测量精度达到nN/μm. |
| 关 键 词： | 微柱阵列 微流控芯片 表面张力系数 测量方法 |
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