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| 采用虚拟样本加速退化试验的复杂电子设备可靠性评估 | |
| 引用本文： | 徐宇亮,陈西宏,孙际哲,刘瑞峰,范浩.采用虚拟样本加速退化试验的复杂电子设备可靠性评估[J].西安交通大学学报,2013,47(6). |
| 作者姓名： | 徐宇亮 陈西宏 孙际哲 刘瑞峰 范浩 |
| 作者单位： | 1. 空军工程大学防空反导学院,710051,西安;中国人民解放军93655部队,101500,北京 2. 空军工程大学防空反导学院,710051,西安 3. 空军装备研究院防空所,100085,北京 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目 |
| 摘 要： | 对复杂电子设备进行可靠性评估时,针对退化特征量难以确定和试验样本数目有限这两方面的困难,提出了一种基于虚拟样本加速退化试验(ADT)的电子设备可靠性评估新方法.将相对贴近度的概念引入到退化监测数据的处理中,以相对贴近度为退化特征量,并对原始样本进行虚拟增广,同时对增广样本数据加以修正处理,从而形成电子设备各应力下的退化轨迹.将该方法与传统的可靠性预测方法相结合,有效地解决了加速退化试验中极少样本数据的处理问题.实例分析表明:电子设备的预测寿命与出厂时标定使用寿命的误差为5.93％,86.27％的样品设备使用寿命超过9 a,说明该方法可行、有效,并大大提高了试验的效费比. |
| 关 键 词： | 复杂电子设备 加速退化试验 可靠性评估 退化模型 虚拟样本 |
Reliability Assessment for Complicated Electronic Equipment with Virtual Samples of Accelerated Degradation Tests |
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| XU Yuliang , CHEN Xihong , SUN Jizhe , LIU Ruifeng , FAN Hao.Reliability Assessment for Complicated Electronic Equipment with Virtual Samples of Accelerated Degradation Tests[J].Journal of Xi'an Jiaotong University,2013,47(6). | |
| Authors: | XU Yuliang CHEN Xihong SUN Jizhe LIU Ruifeng FAN Hao |
| Abstract: | |
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