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| ICP-AES法测定硅铁材料中杂质元素 | |
| 引用本文： | 王术东.ICP-AES法测定硅铁材料中杂质元素[J].高等函授学报(自然科学版),2011,24(1):58-58,62. |
| 作者姓名： | 王术东 |
| 作者单位： | 华中师范大学,第一附属中学,武汉,430223 |
| 摘 要： | 用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定硅铁中Al、Ca,对试样溶解方法、元素干扰、分析谱线进行了试验研究,操作简单,效率高,回收率为91.6%-94%,RSD为1%-2%。 |
| 关 键 词： | 耦合等离子体 发射光谱 硅铁材料 杂质元素 |
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