| 微波测量中的去嵌入方法 |
| |
| 引用本文： | 廖进昆,李珊君,吴志红.微波测量中的去嵌入方法[J].四川大学学报(自然科学版),2000,37(3):384-388. |
| |
| 作者姓名： | 廖进昆 李珊君 吴志红 |
| |
| 作者单位： | 四川大学电气信息学院通信工程系，成都610065 |
| |
| 摘 要： | 考虑微带型微波功率器件的测量问题，运用ＬＲＬ（Ｏｉｎｅ－Ｒｅｆｌｅｃｔ－Ｌｉｎｅ）法对测试夹具去嵌入，待测件的散射参量可表为测量值的单值 函数，消除了嵌入网络参量相位不确定性引人的误差。
|
| 关 键 词： | 微波测量 去嵌入 测试夹具 微波功率器件 测量 |
| 文章编号： | 0490-6756(2000)03-0384-05 |
DE-EMBEDDING METHODS IN MICROWAVE MEASUREMENT |
| |
| LIAO Jin-kun,LI Shan-jun,WU Zhi-hong.DE-EMBEDDING METHODS IN MICROWAVE MEASUREMENT[J].Journal of Sichuan University (Natural Science Edition),2000,37(3):384-388. |
| |
| Authors: | LIAO Jin-kun LI Shan-jun WU Zhi-hong |
| |
| Abstract: | The problem of measurements for power microstrip microwave devices is considered, and the LRL(LineReflectLine) method is used to deembed the S parameters from the microwave transistor test fixture. The S parameters of the devices under test are expressed as the singlevalued functions of the measured parameters,and the errors caused by the phase uncertainties of embedded network parameters are deleted. |
| |
| Keywords: | microwave measurement deembedding test fixture scattering parameters |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
