结型器件基区少子有效寿命测量

从电荷动力学方程导出P~ NR或N~ PR窄基区和长基区非对称结在小注入电流脉冲结束后开路电压随时间衰减的关系式。此函数关系是窄基区杂质任意分布的普遍解。与以往的测量电路比较,在此工作中改进的测量电路扩展了少子有效寿命测量下限。