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| 发射光谱法测定硫氰酸镧中的微量杂质 | |
| 引用本文： | 刘栋,张悦圣,于秀兰,牛林.发射光谱法测定硫氰酸镧中的微量杂质[J].山东大学学报(理学版),1986(2). |
| 作者姓名： | 刘栋 张悦圣 于秀兰 牛林 |
| 作者单位： | 山东大学化学系 (刘栋，张悦圣，于秀兰)，山东大学化学系(牛林) |
| 摘 要： | 引言镧及其化合物中微量杂质的光谱分析已有很多报导。采用在盐酸介中用氢氧化铵将非稀土杂质A1、V、Ti 等定量地与部分镧共沉淀出来,然后用粉沫法进行分析。文献在硝酸介质中用磷酸三丁酯萃取镧中的杂质,反萃后转变成氧化物,再用粉沫法进行分析,富集倍数15—20倍。文献则在二乙基磺酸钠及聚丙烯胺存 |
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