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MOS晶体管模型参数提取的实验方法探讨
引用本文:刘海涛,黄扬帆,温志渝. MOS晶体管模型参数提取的实验方法探讨[J]. 实验科学与技术, 2010, 8(4): 4-5,19
作者姓名:刘海涛  黄扬帆  温志渝
作者单位:1. 重庆大学国家电工电子实验教学示范中心,重庆400030;重庆大学微系统研究中心,重庆400030
2. 重庆大学国家电工电子实验教学示范中心,重庆,400030
3. 重庆大学微系统研究中心,重庆,400030
摘    要:基于CMOS(互补金属氧化物半导体)的集成电路设计在当今集成电路设计中占有很大的比重,MOS晶体管作为CMOS集成电路中最基本的元件之一,其参数的提取在计算机辅助分析中是不可缺少的关键环节之一。文章详细讨论了MOS晶体管众多参数提取的理论基础和实验方法,通过该实验方法的学习和应用,可以使学生对MOS晶体管有更深的认识,同时也对CMOS集成电路设计打下扎实的基础。

关 键 词:MOS晶体管  三级模型  直流参数  交流小信号  参数提取

Study on Experimental Method for MOS Transistor Model Parameters Extraction
LIU Hai-tao,HUANG Yang-fan,WEN Zhi-yu. Study on Experimental Method for MOS Transistor Model Parameters Extraction[J]. Experiment Science & Technology, 2010, 8(4): 4-5,19
Authors:LIU Hai-tao  HUANG Yang-fan  WEN Zhi-yu
Affiliation:b(a.National Experimental Teaching Center of Electrotechnics & Electronic;b.Microsystem Center,Chongqing University,Chongqing 400030,China)
Abstract:The design based the complementary metal oxide semiconductor(CMOS) has a great proportion in the integrated circuit design field.MOS transistor as a basic device of the integrated circuit,its model parameter extraction is the key essential string.MOS transistor the level-3 model include many a parameter.In the paper the theory basis and practice method are discussed.Students are able to have a profundity to realize the MOS transistor.Furthermore,strong basis are prepared to design integrated circuit.
Keywords:MOS transistor  level-3 model  DC parameter  AC small signal  parameter extraction
本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录!
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