首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

射频溅射a-Si:H薄膜的光诱导Si-H键
引用本文:章佩娴,朱琼瑞.射频溅射a-Si:H薄膜的光诱导Si-H键[J].中山大学学报(自然科学版),1983(3).
作者姓名:章佩娴  朱琼瑞
作者单位:中山大学物理学系 (章佩娴),中山大学物理学系(朱琼瑞)
摘    要:本文报告射频溅射非掺杂a-Si:H溥膜的一个新效应——光诱导Si—H键变化。在长时间强光照后,样品的红外振动光谱中Si—H 键三个振动模(600cm~(-1),800cm~(-1),2000cm~(-1))的积分强度同时按相同的比例显著增强,变化达34%.光诱导Si—H 键变化可以通过热退火得到恢复.样品的光诱导电导率和自旋信号的变化也进行了测量,发现Si—H 键积分强度随光照时间的变化规律与光诱导电导率的变化规律相似.本文提出一个简单的模型对此现象作出定性的解释.

本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号