首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

基于March C+算法的Memory BIST设计与实现
引用本文:翟明静,殷景华,宋明歆,郭喜俊.基于March C+算法的Memory BIST设计与实现[J].哈尔滨商业大学学报(自然科学版),2009,25(5):549-552.
作者姓名:翟明静  殷景华  宋明歆  郭喜俊
作者单位:1. 哈尔滨理工大学,应用科学学院,哈尔滨,150080;常州工学院,电子信息与电气工程学院,江苏,常州,213002
2. 哈尔滨理工大学,应用科学学院,哈尔滨,150080
摘    要:随着信息技术的发展,设计越来越复杂,嵌入式存储器在SoC芯片面积中所占的比例越来越大,由于本身单元密度很高,嵌入式存储器容易造成硅片缺陷,降低了芯片的成品率.针对投影仪梯形校正项目嵌入的存储器模块存在的故障等问题,讨论了基于MarchC+算法的BIST的设计与实现,并对BIST进行改进,完成对存储器故障的检测和定位,整个测试故障覆盖率接近100%、测试时间为35.546ms.

关 键 词:March  C+算法  嵌入式存储器  BIST  SoC

Memory BIST design and implement based on March C+ algorithm
ZHAI Ming-jing,YIN Jing-hua,SONG Ming-xin,GUO Xi-jun.Memory BIST design and implement based on March C+ algorithm[J].Journal of Harbin University of Commerce :Natural Sciences Edition,2009,25(5):549-552.
Authors:ZHAI Ming-jing  YIN Jing-hua  SONG Ming-xin  GUO Xi-jun
Abstract:
Keywords:BIST  SoC
本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号