液膜稳定性的研究(Ⅰ)——电容法测液膜的厚度 |
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引用本文: | 吴子生,许国良,严忠.液膜稳定性的研究(Ⅰ)——电容法测液膜的厚度[J].东北师大学报(自然科学版),1985(2). |
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作者姓名: | 吴子生 许国良 严忠 |
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摘 要: | 前言液膜稳定性的研究是液膜理论及液膜分离技术的重要课题。一些人曾由液膜的电化学性质出发进行了研究,测量了一些膜电位和少数的膜电阻。但是,从液膜的电容进行研究尚无报道。本文通过测量的一些液膜的临界电容,获取液膜临界厚度的重要数据,并就此探讨液膜的稳定性,为乳浊液的聚结作用及其稳定性和液膜的分离技术提供一定的依据。
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