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| 半导体器件自适应测试参数调节 | |
| 作者姓名： | 乐其中 |
| 作者单位： | 上海交通大学电子信息与电器工程学院,上海,200240 |
| 摘 要： | 本文根据生产中实际案例，在DFT设计的基础之上，为Intel公司65nm NOR闪存芯片的一种特殊失效模式设计了一种独特的测度方法，同时提出了测试参数根据产品本征特性自适应调节的概念。 |
| 关 键 词： | 测试 DFT 自适应 测试效率及有效性 |
| 本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录！ | |
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