| 氮气氛围下热处理的Na0.5Bi0.5TiO3薄膜的低温介电性能研究 |
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| 引用本文： | 朱夏,李亚巍,沈育德,褚君浩.氮气氛围下热处理的Na0.5Bi0.5TiO3薄膜的低温介电性能研究[J].南通大学学报(自然科学版),2013(2):72-77. |
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| 作者姓名： | 朱夏 李亚巍 沈育德 褚君浩 |
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| 作者单位： | 华东师范大学信息科学技术学院;中国科学院 上海技术物理所红外物理国家实验室 |
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| 基金项目： | 上海市自然科学基金项目(10ZR1409800) |
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| 摘 要： | 采用溶胶凝胶法在LiNaO3(LNO)衬底上制备Na0.5Bi0.5TiO3(NBT)薄膜.部分NBT薄膜在氮气氛围下进行了热处理,记为NBT-N2.在100～400 K的温度范围内,测量了NBT-N2的介电性能.NBT-N2薄膜的介电频谱中出现了损耗峰,存在弛豫现象.利用Arrhenius公式拟合弛豫所对应的激活能,发现在NBT-N2薄膜中存在2个热激活过程:一个对应氧空位电离引入的极化子的跳跃跃迁;另一个对应导电电子与偏离氧八面体中心的Ti离子之间的耦合.此外,采用复阻抗谱分析了NBT-N2薄膜中的介电弛豫过程,在测试温度范围内,随着温度的升高,该弛豫过程逐渐趋向于理想的德拜模型.
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| 关 键 词： | 氮气氛围 热处理 Na0.5Bi0.5TiO3薄膜 低温介电性能 |
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