| 边界扫描环境下的板级互连测试及其BIST实现 |
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| 引用本文： | 钟波,孟晓风,季宏,陈晓梅. 边界扫描环境下的板级互连测试及其BIST实现[J]. 应用基础与工程科学学报, 2009, 17(4): 628-635. DOI: 10.3969./j.issn.1005-0930.2009.04.017 |
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| 作者姓名： | 钟波 孟晓风 季宏 陈晓梅 |
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| 作者单位： | 1. 北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院,北京100083;中国计量科学研究院力声所,北京100013
2. 北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院,北京,100083 |
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| 摘 要： | 互连测试对于电路板的生产和维护具有重要意义.针对现有互连故障检测BIST(built in selftest)实现方法存在测试时间长、硬件开销大等问题,本文提出了一种改进的BIST结构,并阐述了其各组成部分,即查找表(look-up table,LUT)、测试向量生成器(test pattern generator,TPG)、输出响应分析器(output response analyzer,ORA)的设计过程.该实现方法可在保证高故障检测率的前提下,降低硬件开销,缩短测试时间,同时还可避免多驱动器冲突,使测试能够安全进行.
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| 关 键 词： | 边界扫描 互连测试 故障检测 内建自测试 |
Board-level Interconnect Test and BIST Implementation in Boundary Scan Environment |
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| ZHONG Bo,MENG Xiaofeng,JI Hong,CHEN Xiaomei. Board-level Interconnect Test and BIST Implementation in Boundary Scan Environment[J]. Journal of Basic Science and Engineering, 2009, 17(4): 628-635. DOI: 10.3969./j.issn.1005-0930.2009.04.017 |
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| Authors: | ZHONG Bo MENG Xiaofeng JI Hong CHEN Xiaomei |
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