GaAs(001)衬底上经双缓冲层生长的Hg1—xCdxTe—HgTe超晶格结构 |
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引用本文: | 刘义族,于福聚.GaAs(001)衬底上经双缓冲层生长的Hg1—xCdxTe—HgTe超晶格结构[J].天津师范大学学报(自然科学版),2001,21(3):39-42. |
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作者姓名: | 刘义族 于福聚 |
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作者单位: | [1]天津师范大学物理与电子信息学院,天津300074 [2]中国科学院上海技术物理研究所,上海200083 |
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摘 要: | 用X-射线衍射测定了分析束外延(MBE)法生生长的Hg1-xCdxTe-HgTe超晶格样品在(001)附近的扫描徊摆曲线,并用动力学理论模拟计算出衍射曲线,产验曲线与理论计算基本上相符合,由实验衍射曲线计算出的超晶格周期长度,阱HgTe层厚度及垒Hg1-xCdxTe层厚度与模拟计算的相一致,用透射电子显微镜(TEM)对同一样品的横截面进行了分析,对CdTe/ZnTe/GaAs异质结界面失配位错的组态特征进行了研究,证明用CdTe/ZnTe作为双缓冲层比单一的CdTe有较好的效果,截面TEM稿分辨率明场象显示Hg1-xCdxTe-HgTe超晶格的生长较为成功,界面较为平整,由截面TEM高分辨明场象观测的周期长度与X-射线衍射测定的结果相接近。
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关 键 词: | 分子束外延法 Hg1-xCdxTe-HgTe超晶格 CdTe/ZnTe/GaAs异质结 双缓冲层生长 晶格结构 晶格生长 |
文章编号: | 1671-1114(2001)03-0039-04 |
修稿时间: | 2001年4月13日 |
GaAs
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