| 模拟电路可测拓扑条件和可测性分析及可测性设计 |
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| 引用本文： | 孙义闯,何怡刚.模拟电路可测拓扑条件和可测性分析及可测性设计[J].湖南大学学报(自然科学版),2002,29(1):85-92. |
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| 作者姓名： | 孙义闯 何怡刚 |
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| 作者单位： | 1. 英国Herrfordshire大学工程与信息科学学院电子通讯与电气工程系
2. 湖南大学电气与信息工程学院,湖南,长沙,410082 |
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| 基金项目： | 家自然科学基金资助 (594 770 0 2 )，湖南省自然科学基金 (N o.98JJY2 0 3 8)，高等学校骨干教师资助
计划项目 (教文 [2 0 0 0 ] 6 5号 )资助 |
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| 摘 要： | 深刻地阐述了系统的可测性问题 ,提出了从可测性分析和可测性设计两方面进行研究的观点 .针对支路故障诊断法 ,讨论了可测拓扑条件、可测性分析和可测性设计问题 ,提出了几个新的必要且几乎充分可测拓扑条件 ,并依据这些条件给出了可测性分析和可测性设计的一些方法
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| 关 键 词： | 模拟电路 故障诊断 可测性 |
| 文章编号： | 1000-2472(2002)01-0085-07 |
| 修稿时间： | 2001年9月16日 |
Topological Conditions ,Analysis and Design for Testability in Analogue Circuits |
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| SUN Yi chuang,HE Yi gang.Topological Conditions ,Analysis and Design for Testability in Analogue Circuits[J].Journal of Hunan University(Naturnal Science),2002,29(1):85-92. |
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| Authors: | SUN Yi chuang HE Yi gang |
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| Institution: | SUN Yi chuang 1,HE Yi gang 2 |
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| Abstract: | The testability problem of analogue circuits and systems was discussed in a comprehensive way.The viewpoint of studying testability form,analysis and design was proposed.For the branch fault diagnosis approach of analogue circuits a number of new necessary and almost sufficient topological testability conditions were prsented.Various effective methods and algorithms for testability analysis and desgin are given. |
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| Keywords: | anolog circuits fault diagnosis testability |
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