| 基于改进算法的DICE结构抗辐射SRAM内建自测试电路设计 |
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| 引用本文： | 王海新,曹贝,付方发,李美慧. 基于改进算法的DICE结构抗辐射SRAM内建自测试电路设计[J]. 黑龙江大学自然科学学报, 2020, 37(6): 743-750. DOI: 10.13482/j.issn1001-7011.2020.11.039 |
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| 作者姓名： | 王海新 曹贝 付方发 李美慧 |
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| 作者单位： | 黑龙江大学 电子工程学院,哈尔滨150080,黑龙江大学 电子工程学院,哈尔滨150080,哈尔滨工业大学 微电子中心,哈尔滨150001,黑龙江大学 电子工程学院,哈尔滨150080 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金;黑龙江大学研究生创新科研项目 |
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| 摘 要： |
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| 关 键 词： | DICE结构抗辐射SRAM 故障模型 March算法 存储器内建自测试 |
Built-in self-test circuit design of DICE structure anti-radiation SRAM based on improved algorithm |
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| WANG Haixin,CAO Bei,FU Fangfa,LI Meihui. Built-in self-test circuit design of DICE structure anti-radiation SRAM based on improved algorithm[J]. Journal of Natural Science of Heilongjiang University, 2020, 37(6): 743-750. DOI: 10.13482/j.issn1001-7011.2020.11.039 |
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| Authors: | WANG Haixin CAO Bei FU Fangfa LI Meihui |
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| Abstract: | |
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