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溅射淀积Inp薄膜的结晶生长结构
引用本文:黎锡强.溅射淀积Inp薄膜的结晶生长结构[J].科学通报,1990,35(20):1599-1599.
作者姓名:黎锡强
作者单位:中国科学院上海冶金研究所离子束实验室 上海
摘    要:Inp热不稳定性是导致真空热淀积成膜失败的重要原因。虽然射频溅射法已成功制备了大量诸如GaAs,GaP和InAs等Ⅲ—V族化合物薄膜,但无Inp报道。我们首次以Inp晶体作靶,与磷共溅射成功淀积了符合配比的非晶Inp薄膜。本文进一步探讨淀积Inp膜的生长结构。

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