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| CMOS电路锁定失效的一般性防止措施研究 | |
| 引用本文： | 梁洪涛.CMOS电路锁定失效的一般性防止措施研究[J].科技信息,2011(25):I0093-I0093,I0045. |
| 作者姓名： | 梁洪涛 |
| 作者单位： | 中国人民解放军海军驻北京地区某军代表室; |
| 摘 要： | CMOS电路是一个具有良好特性的电路结构,但是在实际应用中常出现锁定失效的现象,容易对产品功能和电路造成危害。针对这个问题,本文对产生这种锁定失效现象的产生原因和条件进行了分析,提出了一系列有效可行的防止措施,对解决锁定失效问题和提高CMOS电路的设计应用具有很强的针对性。 |
| 关 键 词： | CMOS电路 锁定失效 防止措施 |
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