| Cr(Ⅵ)光电比色过程分析系统 |
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| 引用本文： | 潘亚明,余润,黄友之.Cr(Ⅵ)光电比色过程分析系统[J].北京理工大学学报,1988(2). |
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| 作者姓名： | 潘亚明 余润 黄友之 |
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| 作者单位： | 北京工业学院化学工程系
(潘亚明，余润)，北京工业学院化学工程系(黄友之) |
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| 摘 要： | 本文报导了我们研制的Cr(Ⅵ)光电比色过程分析系统的设计思想、原理、结构及性能等。该系统可用于工业废水Cr(Ⅵ)含量在线自动监控。设计中采用单波长双光路此值运算方法,克服了光电比色分析中光源稳定性问题,又可消除测量池污染、硅光电池疲劳的影响。采用MCS-48单片机作为信息控制处理机,抗干扰性能好,体积小,运算速度快,具有很好的性能价格比,对传感检测单元进行了优化设计,具有较高的灵敏度。Cr(Ⅵ)光电比色过程分析系统很易推广到其它具有显色反应的离子浓度在线自动测量上。
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| 关 键 词： | 光电比色 过程分析 双光路比值法 Cr(Ⅵ)分析 单片机 |
A PHOTOCOLORIMETRIC PROCESS ANALYSIS SYSTEM FOR HEXAVALENT CHROMIUM |
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| Pan Yaming Yu Run Huang Youzhi.A PHOTOCOLORIMETRIC PROCESS ANALYSIS SYSTEM FOR HEXAVALENT CHROMIUM[J].Journal of Beijing Institute of Technology(Natural Science Edition),1988(2). |
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| Authors: | Pan Yaming Yu Run Huang Youzhi |
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| Institution: | Department of Chemical Engineering |
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| Keywords: | photocolorimetry process analysis dual-beam ratio method hexavalent chromium measurement single-chip microcomputer |
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