半导体芯片基于多元回归的温度拟合

应用多元回归的方法,通过最小二乘法得到回归系数并构造其矩阵,对半导体芯片中温敏二极管的电压值进行拟合,使其得到一个更接近真实的温度值。通过将试验结果与温度测量表得到的实际温度进行比较,表明该方法能够有效实现对温敏二极管的电压数据进行拟合,得到半导体芯片的温度值。