一种新型的MLC NAND Flash错误检测方法

针对多级电平单元(MLC)的可靠性问题,以及现有的MLC错误检测方法较少、且存在错误覆盖率不足、效率不高的缺点,提出了一种具有更高错误覆盖率、更高效率的错误检测方法——MLC NAND March错误检测方法.针对MLC将现有的检测方法进行了简化,提出了全新的棋盘式测试图案和错误检测流程,将错误检测范围覆盖至读干扰检测和边缘干扰检测.实验结果表明:利用提出的MLC NAND March错误检测方法,当读操作重复次数为5时,测试2 MB的MLC仅需0.583 s,可以在保证最大错误检测覆盖率的同时达到较高的效率.同时该错误检测方法也适用于封装完成后的MLC错误检测,可以更快速更大概率地触发所有错误,便于快速检测MLC芯片是否可用.