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多层掺杂对一维光子晶体缺陷模的影响
引用本文:刘启能,张翠玲,林睿,胡莉.多层掺杂对一维光子晶体缺陷模的影响[J].重庆工商大学学报(自然科学版),2008,25(4).
作者姓名:刘启能  张翠玲  林睿  胡莉
作者单位:重庆工商大学,计算机科学与信息工程学院,重庆,400067
基金项目:教育部工程研究中心基金 
摘    要:采用特征矩阵法计算了一层掺杂、双层掺杂和三层掺杂情况下缺陷模的变化特征,得到了掺杂层数的变化对缺陷模的数目、峰高和半高宽都有明显的影响。一层掺杂时,只出现一个中心缺陷模;双层掺杂和三层掺杂时除了出现中心缺陷模外,在中心缺陷模的两侧还出现了两个对称缺陷模,中心缺陷模的半高宽随掺杂层数的增加而减小。对称缺陷模的峰高和半高宽都随掺杂层数的增加而减小;对称缺陷模的位置随掺杂层数的增加而向中心缺陷模移动。

关 键 词:光子晶体  特征矩阵  缺陷模  多掺杂

Influnce of multilayer doping on the one-dimensional photonic crystal defect mode
LIU Qi-neng,ZHANG Cui-ling,kiN Rui,HU ki.Influnce of multilayer doping on the one-dimensional photonic crystal defect mode[J].Journal of Chongqing Technology and Business University:Natural Science Edition,2008,25(4).
Authors:LIU Qi-neng  ZHANG Cui-ling  kiN Rui  HU ki
Abstract:
Keywords:
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