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| LEP/L3实验中BGO晶体抗束流辐照损伤性能的研究 | |
| 引用本文： | 张子平.LEP/L3实验中BGO晶体抗束流辐照损伤性能的研究[J].科学通报,1995,40(4):302-302. |
| 作者姓名： | 张子平 |
| 作者单位： | 中国科学技术大学近代物理系 合肥230026 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目 |
| 摘 要： | 1 L3亮度监测器位于L3探测器两端的亮度监测器的BGO阵列,每个包含304块长为26cm,截面为1.5×1.5cm~2到1.5×3.0cm~2的晶体,排成图1所示的圆筒状,分成16个扇区.在两端共32个扇区中,17个扇区的晶体来自上海硅酸盐所,12个扇区来自日本的NKK,3个扇区来自Crismatic公司. |
| 关 键 词： | BGO晶体 辐照损伤 亮度监测器 LEP加速器 L3实验 |
| 收稿时间： | 1994-05-31 |
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