| 一种基于电路自反馈的测试向量产生算法 |
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| 引用本文： | 蔡烁. 一种基于电路自反馈的测试向量产生算法[J]. 科学技术与工程, 2008, 8(23) |
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| 作者姓名： | 蔡烁 |
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| 作者单位： | 长沙理工大学计算机与通信工程学院,长沙,410076 |
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| 摘 要： | 内建自测试（BIST）是可测性设计中常用的方法，其中的测试电路部分要占用一定的芯片面积。提出并实现了一种基于电路自反馈的测试向量产生算法，通过将被测电路中的一些内部节点反馈连接到被测电路的输入端，由电路自己施加测试向量进行测试。该方法可以减少BIST的面积开销，实现全速测试，同时还能保证较高的故障覆盖率。
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| 关 键 词： | 可测性设计 内建自测试 自反馈 测试集 故障覆盖率 |
Test Pattern Generation Algorithm Based on CUT's Feedback |
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| CAI Shuo. Test Pattern Generation Algorithm Based on CUT's Feedback[J]. Science Technology and Engineering, 2008, 8(23) |
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| Authors: | CAI Shuo |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | |
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