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| 差谱—二阶导数光度法直接测定钴中微量锰 | |
| 引用本文： | 赵常志,谭忠印,宋新丽.差谱—二阶导数光度法直接测定钴中微量锰[J].辽宁师范大学学报(自然科学版),1992(4). |
| 作者姓名： | 赵常志 谭忠印 宋新丽 |
| 作者单位： | 辽宁师范大学化学系，辽宁师范大学化学系，辽宁师范大学化学系 |
| 摘 要： | 对利用差谱—二阶导数分光光度法直接测定强干扰基体中微量组分的原理和实验方法进行了探讨.以测定钴中的微量锰为例,考查了该法在5～50mg/mL钴存在下测定锰的线性范围和精密度,对测定钴中0.001%～0.05%的锰取得了满意的结果. |
| 关 键 词： | 差谱 二阶导数光度法 锰测定 |
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