| TiO2过渡层对BiFeO3薄膜微结构和铁电磁性质的影响 |
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| 引用本文： | 朱成龙,沈明荣,李涛.TiO2过渡层对BiFeO3薄膜微结构和铁电磁性质的影响[J].苏州大学学报(医学版),2007,23(3):49-54. |
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| 作者姓名： | 朱成龙 沈明荣 李涛 |
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| 作者单位： | 苏州大学江苏省薄膜材料重点实验室,江苏苏州215006 |
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| 摘 要： | 研究了TiO2过渡层对BiFeO3薄膜微结构和铁电磁性质的影响.采用溶胶-凝胶法分别在Si（100）和Pt（111）/Ti/SiO2/Si（100）衬底上制备了BiFeO3薄膜.通过加入约10 nm厚度的TiO2过渡层,在两种衬底上均制备出了纯相BiFeO3薄膜,而未加过渡层的薄膜均有杂相存在.与未加TiO2过渡层相比较,BiFeO3/TiO2薄膜表面颗粒大小更加均匀、致密、平整.在室温10kHz下沉积在Pt/Ti/SiO2/Si衬底上的薄膜的损耗从0.094下降到0.028;而薄膜的介电常数变化不大,分别为177和161.在室温下同时测得了薄膜的电滞回线和磁滞回线.BiFeO3/TiO2薄膜的饱和磁化强度为16.8 emu/cm3,在600kV/cm电场下,剩余极化强度为9.8μC/cm2.研究表明,TiO2过渡层能够有效地抑制Bi FeO3薄膜杂相的生成,提高薄膜的表面平整度以及耐压性.
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| 关 键 词： | 溶胶-凝胶法 铁磁电材料 BiFeO3薄膜 TiO2过渡层 |
| 文章编号： | 1000-2073（2007）03-0049-06 |
| 收稿时间： | 2007-01-20 |
| 修稿时间： | 2007年1月20日 |
The effect of TiO2 buffer layer on the microstructure and ferroelectric and magnetic properties of BiFeO3 films |
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| Zhu Chenglong,Shen Mingrong,Li Tao.The effect of TiO2 buffer layer on the microstructure and ferroelectric and magnetic properties of BiFeO3 films[J].Journal of Suzhou University(Natural Science),2007,23(3):49-54. |
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| Authors: | Zhu Chenglong Shen Mingrong Li Tao |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | sol-gel multiferroic materials BiFeO3 films TiO2 buffer layer |
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