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| 相关双取样技术分析 | |
| 引用本文： | 张赫钢.相关双取样技术分析[J].华中科技大学学报(自然科学版),1982(4). |
| 作者姓名： | 张赫钢 |
| 摘 要： | 本文对抑制电荷耦合器件(CCD)复位噪声的相关双取样技术的物理本质、数学基础和系统性能作了比较仔细的分析,并对有关文献中的疏误进行了修正. |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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