| 薄膜磁阻效应计算机控制自动测试方法的研究 |
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| 引用本文： | 崔甲武,赵志国,张绍武.薄膜磁阻效应计算机控制自动测试方法的研究[J].河南科学,2001,19(2):140-145. |
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| 作者姓名： | 崔甲武 赵志国 张绍武 |
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| 作者单位： | 崔甲武（南阳师范学院物理系，河南南阳 473061）;赵志国（洛阳师范学院物理系，河南洛阳 461022）;张绍武（河南省科学院应用物理研究所，河南郑州 450008） |
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| 基金项目： | 河南省教委自然科学基础研究项目(2000140008) |
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| 摘 要： | 采用单片机8031来模拟三角波输出而产生超低频扫场电源，用四探针、六探针测量法，实现对薄膜磁阻效应的自动测试。
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| 关 键 词： | 薄膜磁阻效应 探针 单片机 |
| 文章编号： | 1004-3918(2001)02-0140-06 |
| 修稿时间： | 2001年2月18日 |
Research on film magnetic-resistance effect measured
automatically by computer control |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | thin film magnetic-resistance effect probe chip microprocessors |
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