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| 45钢热处理的正电子寿命谱分析 | |
| 引用本文： | 刘尚进,周上祺,胡摄纪.45钢热处理的正电子寿命谱分析[J].重庆大学学报(自然科学版),1985,8(3). |
| 作者姓名： | 刘尚进 周上祺 胡摄纪 |
| 作者单位： | 重庆大学应用物理系 (刘尚进)，重庆大学冶金及材料工程系 (周上祺)，重庆大学冶金及材料工程系(胡摄纪) |
| 摘 要： | 我们测定了45钢从820℃淬火后分别在200℃、400℃、600℃回火及加热到740℃的正电子寿命谱;测定了经上述处理的试样的硬度和微观应力。结果表明,对于淬火试样,τ_1和τ_2的数值比较接近。随着回火温度的增加,τ_1减少I_1增加,τ_2增加I_2减少。这与位错密度和点阵静畸变减少、空位集中形成空位团相关。硬度和微观应力与正电子寿命τ_1之间有一定的对应关系。 |
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