一种Philip Mifare1-S70卡片的区块可用性校验方法及实现 |
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引用本文: | 巫乔顺,匡胜徽,彭海波.一种Philip Mifare1-S70卡片的区块可用性校验方法及实现[J].江西科学,2016(4):538-542. |
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作者姓名: | 巫乔顺 匡胜徽 彭海波 |
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作者单位: | 武钢集团昆明钢铁股份有限公司信息中心 |
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摘 要: | 针对信息系统一卡通项目建设过程中Philip Mifare1-S70卡片的残次品问题,通过对卡片故障现象进行深入分析,得出卡片异常情况有读卡失败、写卡失败、写入与读出内容不一致3种常见类型,并结合工程案例提出了一种区块可用性校验方法,给出了具体的区块可用性校验步骤和实现过程。实际应用表明,通过这种事先校验的手段,测试人员能够快速地挑拣出有故障的卡片,杜绝了异常卡片进入流通环节,为企业节约了人力及物力成本。
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关 键 词: | IC卡 一卡通 Philip Mifare1-S70 扇区 块 信息系统集成 |
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