基于像元递归的高光谱局部异常检测算法

阐述了基于传统RX算法(Reed-Xiaoli Detector,RXD)架构的高光谱实时局部异常检测算法研究方案.基于高光谱空间成像方式的特点,针对摆扫型成像光谱仪逐像元成像的机理,采用局部因果阵列窗,两次利用Woodbury矩阵求逆引理,实现高光谱目标的局部异常检测.首先,将经典的矩阵窗改进为滑动因果阵列窗;然后,对局部实时算子的因果阵列窗窗长的参数设定进行优化,选取四组数据进行测试对比,选取最优参数;最后,就检测结果灰度图、ROC曲线(Receiver Operating Characteristic Curve)、AUC数值(Area Under Curve)以及算法运行时间等四个方面,对局部异常检测算子与经典双窗算子、全局实时算子分别进行仿真实验比较.结果表明,虽然因果阵列窗窗长的参数优化使局部异常检测算子的计算复杂度有略微升高,但异常目标点的观测更加清晰,AUC值明显提高,具有更好的检测效果.