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8051芯片核的场可编程门阵列测试台设计
引用本文:徐生菊.8051芯片核的场可编程门阵列测试台设计[J].青海大学学报,2004,22(4):69-72.
作者姓名:徐生菊
作者单位:青海大学财经学院 青海西宁 810008
摘    要:针对8051芯片核的场可编程门阵列测试,提出了一种测试台的构建方法。从测试台的整体构成、存储器建立和测试程序装载三个方面描述测试台的构建过程。测试台是用标准硬件描述语言来建模的,其构建的方法还可以应用到其他微程序控制器或CPU核的测试中去。

关 键 词:8051芯片核  场可编程门阵列  标准硬件描述语言
文章编号:1006-8996(2004)04-0069-04
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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