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| 银离子导体在透射电镜(TEM)观测过程中的银丝生长 | |
| 作者姓名： | 范成高 孟广耀 |
| 作者单位： | 中国科学技术大学结构成分分析中心(范成高)，中国科学技术大学材料科学与工程系(孟广耀) |
| 摘 要： | 1 引言最近,对纳离子导体NASICON(Na Superionic Conductor),即Na_3Zr_2Si_2PO_(12)的Ag~+交换试样(AgSICON)进行电镜观察,发现样品颗粒表面喷吐出丝状物质的奇异现象。经过仔细的观测、拍照记录并利用电子衍射和X射线能谱仪进行结构与成分分析,结果表明,这是银离子导体在电子束作用下的银丝生长。该现象的成因是银离子导体 |
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